Aquest instrument adopta el xip de microordinador d'un sol cristall d'alt rendiment importat de ST Microelectronics, combinat amb el xip de conversió A/D d'alta resolució nord-americà "Microchip" com a nucli de control de mesura i el precís corrent positiu de CA de 1.000 KHZ sintetitzat per la fase. -El bucle bloquejat s'utilitza com a font de senyal de mesura aplicada a l'element provat. El senyal de caiguda de tensió feble generat es processa per un amplificador operacional d'alta precisió i el valor de resistència interna corresponent s'analitza mitjançant un filtre digital intel·ligent. Finalment, es mostra a la pantalla LCD de matriu de punts gran.
L'instrument té els avantatges dealta precisió, selecció automàtica de fitxers, discriminació automàtica de polaritat, mesura ràpida i ampli rang de mesura.